Fluorescencja rentgenowska / XRF

Agnieszka Tomczyk, na podst. „What is X-ray fluorescence (XRF)?” Christelle Petiot, Hitachi High Tech

Fluorescencja rentgenowska lub XRF to technika analityczna stosowana od wielu lat do określania składu pierwiastkowego szerokiej gamy materiałów. Są to na przykład stopy metali, minerały i produkty naftowe.

 

XRF-1

Fot.: Przykładowa praca z XRF / PCB

Promienie rentgenowskie stanowią część widma elektromagnetycznego. Znajdują się one po wysokoenergetycznej stronie ultrafioletu i są wyrażane w postaci ich energii w kiloelektronowoltach lub długości fali w nanometrach.

XRF może zazwyczaj analizować pierwiastki od sodu do uranu w stężeniach od części milionowej do wysokoprocentowej zawartości w ciałach stałych, płynach i proszkach.

 

 

Jak działa fluorescencja rentgenowska?

 

Wszystkie urządzenia XRF są zaprojektowane wokół dwóch głównych komponentów, źródła promieniowania rentgenowskiego, zwykle lampy rentgenowskiej oraz detektora. Pierwotne promienie rentgenowskie są generowane przez źródło i kierowane na powierzchnię próbki, czasami przechodząc przez filtr w celu modyfikacji wiązki promieniowania rentgenowskiego. Gdy wiązka uderza w atomy w próbce, reagują one, generując wtórne promienie rentgenowskie, które są zbierane i przetwarzane przez detektor.

 

XRF, EDXRF, fluorescencja rentgenowska, #spektrometr rentgenowski, PMI, pcb service

Fot.: Schemat działania XRF / PCB

Stabilny atom składa się z jądra i krążących wokół niego elektronów. Elektrony są ułożone w poziomy energetyczne lub powłoki, a różne poziomy energii mogą zawierać różną liczbę elektronów. Kiedy wysokoenergetyczne pierwotne promieniowanie rentgenowskie zderza się z atomem, zaburza jego równowagę.

Elektron jest wyrzucany z niskiego poziomu energii i powstaje wakat, co powoduje, że atom jest niestabilny. Aby przywrócić stabilność, w tę lukę wpada elektron z wyższego poziomu energetycznego. Nadmiar energii uwalniany podczas przemieszczania się elektronu między dwoma poziomami jest emitowany w postaci wtórnego promieniowania rentgenowskiego. Energia emitowanego promieniowania rentgenowskiego jest charakterystyczna dla każdego pierwiastka. Dzięki temu, XRF dostarcza informacji jakościowych o mierzonej próbce.

 

Jednak XRF jest również techniką ilościową.

XRF, EDXRF, fluorescencja rentgenowska, #spektrometr rentgenowski, PMI, pcb service

Fot.: XRF jako technika ilościowa / PCB

Promienie rentgenowskie emitowane przez atomy w próbce są zbierane przez detektor i przetwarzane w analizatorze w celu wygenerowania widma pokazującego piki intensywności promieniowania rentgenowskiego w funkcji ich energii.
Jak widzieliśmy, energia szczytowa identyfikuje element. Jego powierzchnia lub intensywność piku wskazuje na jego ilość w próbce.
Analizator następnie wykorzystuje te informacje do obliczenia składu pierwiastkowego próbki.
Cały proces od naciśnięcia przycisku start lub spustu do uzyskania wyników analizy może trwać zaledwie dwie sekundy lub może zająć kilka minut.

 

Dlaczego ludzie wybierają technikę XRF?

 

W porównaniu z innymi technikami analitycznymi XRF ma wiele zalet.
Pomiar zajmuje niewiele czasu i szybki. Mierzy szeroki zakres pierwiastków i stężeń w wielu różnych rodzajach materiałów. Jest nieniszczący i nie wymaga przygotowania próbki lub wymaga bardzo niewielkiego przygotowania próbki, a także jest dość tani w porównaniu z innymi technikami (praktycznie nie wymaga materiałów zużywalnych). Wiele spektrometrów XRF ma kompaktową ergonomiczną budowę.
Dlatego tak wiele osób na całym świecie używa XRF na co dzień do analizy materiałów.

 

Firma Hitachi to producent spektrometrów XRF jak i spektrometrów iskrowych OES.  Spektrometr EDXRF  X-MET8000 to jeden z najczęściej wybieranych ręcznych spektrometrów rentgenowskich zarówno do badań metali jak i substancji w tym tworzyw sztucznych wg RoHS, produktów naftowych czy badań geochemicznych.

XRF, EDXRF, fluorescencja rentgenowska, #spektrometr rentgenowski, PMI, pcb service

Fot. Spektrometr rentgenowski X-MET8000 różne zastosowania / PCB

X
Skip to content

Jeśli chcesz kontynuować oglądanie tej strony musisz zaakceptować użycie plików cookie. Więcej informacji

UWAGA: W portalu stosowane są pliki cookie.
Korzystanie z portalu bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim urządzeniu (komputerze, telefonie), na co wyrażasz zgodę. W każdym czasie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies. Więcej szczegółów znajdziesz na stronie Informacje o plikach cookies oraz Polityka prywatności.

Komunikat nawiązujący do nowelizacji Ustawy Prawo Telekomunikacyjne wchodzącej w życie dnia 22 marca 2013 roku.

Zamknij