27.01.2021
Zofia Mzyk, Jacek Anyszkiewicz, Tadeusz Gorewoda
Wstęp
Warunkiem dobrej metody analitycznej dla spektrometrii rentgenofluorescencyjnej (XRF) jest uzyskanie proporcjonalności między wielkością mierzoną (natężenie promieniowania fluorescencyjnego X) i oznaczaną (stężenie analitu). Osiągnięcie takiej zależności w spektrometrii XRF było celem wielu badań prowadzonych od chwili wykorzystania tej techniki do oznaczania składu chemicznego substancji. Zależność między zawartością analitu a zmierzoną intensywnością jego promieniowania charakterystycznego przedstawia ogólne równanie:
Źródło artykułu: LAB, rok 19, nr 1, s. 6-8 (nr 1/2014).