Z ARCHIWUM LAB ,,Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych''

19.07.2021

Autor: 
Bogusław Ziębowicz, Marcin Staszuk, Paweł Jarka
Zdjecie artykułu: 
LAB 1/2018

 

 

ANALIZA POWIERZCHNI Z WYKORZYSTANIEM MIKROSKOPU SIŁ ATOMOWYCH

 

Bogusław Ziębowicz, Marcin Staszuk, Paweł Jarka

 

Wstęp

 

Wchodząca w skład grupy mikroskopii sond skanujących, mikroskopia sił atomowych (ang. Atomic Force Microscopy - AFM) opiera się na wykorzystaniu międzyatomowych oddziaływań bliskiego zasięgu, których intensywność zależy od topografii powierzchni próbki poddawanej badaniom. 

 

 

Więcej...

 

Źródło artykułu: LAB, rok 23, nr 1, s.18-22 (nr 1/2018).